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冷热冲击试验 检测服务中心面向集成电路、电子元器件、半导体、PCBA、LED、汽车电子、新材料等,为客户提供包括无损分析、失效分析、物理性能测试、微纳分析、可靠性与寿命评估、工艺制程等在内的技术解决方案。

冷热冲击试验的目的是用来揭露机?#31561;?#30005;和性能下降情况,许多样品在使用、装卸、运输过程中都易经受到冲击,对元器件型样品尾签定或质量管理而进行的结构完整性试验。


参考标准:GB/T 2423.5 / IEC60068-2-14 / EIA-364-32 / MIL-STD-202
测试服务:

温度范围(高温):+60~ 300

        (低温):-70~ 0

试验脉冲波形:后峰锯齿半正弦梯形、半正弦
试验周期:0.5,1, 6, 11,18ms

试验设备:

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苏州工业园区浩高电子科技有限公司

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